Ausstattung:
Einsatzgebiet:
Technische Eckdaten:
Abzugsgeschwindigkeit |
0,1 bis 1.000 mm/min |
Abscheidezyklen |
Unbegrenzt |
Verweilzeiten |
0 bis 9.999 s |
Abscheidearm |
145 mm max. Hub |
Abmessungen des Substrats |
100 mm x 100 mm x 10 mm |
Lineare Bewegung der Schöpfvorrichtung |
Bereich: 0 bis 600 mm Geschwindigkeit: 0,01 mm bis 400 mm/min |
Sprühbeschichtung – Technische Eckdaten:
Hub |
X-Achse: 400 mm Y-Achse: 400 mm Z-Achse: 100 mm |
Maximale Geschwindigkeit |
300 mm/sec |
Wiederholbarkeit der Positionierung |
±0,02 mm |
Druckluft |
6 bar |
Materialdruck |
0,5 bar – 5 bar |
Positionierpunkte |
3.000 |
Anwendungen:
Einsatzgebiet:
Planeten-Kugelmühle – Technische Eckdaten:
Materialaufgabegröße |
< 10 mm |
Endfeinheit |
< 1 μm; bei Kolloidvermahlung < 0,1 μm |
Drehzahlverhältnis |
1 : - 2 / 1 : -2,5 / 1 : -3 |
Drehzahl der Sonnenscheibe |
30 - 400 min-1 |
G-Kraft |
26,8 g |
Art der Schleifwerkzeuge |
Gehärteter und rostfreier Stahl, Wolfram,Karbid, Achat, gesintertes Aluminium Oxid, Zirkoniumoxid |
Sinter-Heißpresse – Technische Eckdaten:
Probenabmessungen |
Max. Oberfläche: 225 cm2 Max. Höhe: 6 cm |
Temperaturbereich |
250°C - 2.400°C |
Inertgas |
Stickstoff, Formiergas, Edelgas (Druck 1 - 5 bar) |
Druckkraft • Differenziell • nominal |
24 kN - 285 kN 31 kN - 368 kN |
Anwendungen:
Prozesssimulationen von sehr kleinen Probenmengen:
Typische Untersuchungen:
Doppelschneckenextruder – Technische Eckdaten:
Schneckendurchmesser |
16 mm |
L/D-Verhältnis |
25 |
Max. Temperatur |
350°C |
Typischer Ausstoß |
0,2 bis 2 kg/h |
Max. Druck |
100 bar |
Max. Schneckendrehzahl |
1.100 min-1 |
Max. Drehmoment |
130 Nm |
Heizzonen |
7 |
Dosiersysteme |
Volumetrisch/Gravimetrisch |
Drehrichtung |
Gleichlaufend |
Unser Farb-3D-Laser-Scanning-Mikroskop kombiniert die Vorteile eines optischen Mikroskop, SEM und Rauheitsmessung. Die folgenden Merkmale verleihen ihm einen Vorteil gegenüber herkömmlichen SEMs und Rauheitsmessgeräten:
3D-Laserscanning-Mikroskop
Anwendungen:
Art der Messung |
Auswertungsdaten |
Profil |
Höhe, Breite, Abmessungen, Form, Winkel |
Rauheit |
Linien-, Kurven- oder Flächenrauhigkeit |
3D-Messung |
Volumen, Fläche, Verhältnis von Fläche zu Oberfläche |
Vergleichende Messung |
Unterschiede in Breite, Höhe und Querschnitt von zwei Objekten |
Technische Eckdaten:
HD-Vergrößerung der Beobachtung |
18,000x |
Vergrößerung der Objektivlinse |
10x / 20x / 50x / 150x |
Höhenmessbereich |
0.28” (7mm) |
Laser-Wellenform |
Violetter Laser, 408 nm |
Unsere Mikroskopplattform bietet helle Farben durch ihre hervorragende Optik und unterstützt Beleuchtungsvarianten für Auflicht und Durchlicht. Es stehen verschiedene Filter zur Verfügung, darunter auch Polfilter. Die 5-Megapixel-Farbkamera (Axio MRc5) mit 1:1.300 Dynamikbereich und 36 Bit RGB-Farbtiefe ermöglicht eine hohe Farbgenauigkeit. Die Vergrößerung reicht bis zu 150x.
Unsere Digitalmikroskope sind mit leistungsstarken Zoomobjektiven ausgestattet(20x - 200x) sowie mit hochauflösenden Zoomobjektiven (500x - 5.000x) ausgestattet. Zu den fortschrittlichen Funktionen gehören Tiefenkomposition, 3D-Darstellung und Bildgebung mit großem Tiefenfeld.
Netzsch TG 209 Blende
Analyse:
•Massenänderungen
•Temperaturstabilität
•Oxidations-/Reduktionsverhalten
•Füllstoffgehalt
•Gehalt an Feuchte und flüchtigen Bestandteilen
•Zersetzung (Dehydratisierung, Stabilität, Restlösungsmittel, Pyrolyse)
•Korrosionsuntersuchungen
•Analyse der Zusammensetzung von Mehrkomponentenmaterialien/-mischungen (Polymere,Weichmacher, Lösungsmittel, Additive)
•Thermokinetische Analyse
Anwendungen:
Thermogravimetrische Analyse – Technische Eckdaten:
Temperaturbereich |
(10°C) 20°C - 1.100°C |
Abkühl- und Aufheizrate |
0,001 - 100 K/min |
Messbereich |
Bis zu 2.000 mg |
Tarierbereich |
Bis zu 2 g |
Auflösung |
0,1 μg |
Gasatmosphären |
Argon/synthetische Luft |
Gekoppelt mit c-DTA |
Probentemperatur direkt gemessen |
Analyse:
Differential-Scanning-Kalorimetrie – Technische Eckdaten:
Temperaturbereich |
-85°C bis 600°C |
Abkühl- und Aufheizrate |
0,001 - 100 K/min |
Auflösung |
0,1 μg |
Empfindlichkeit |
τ-Sensor (hohe Auflösung): 3,2 μV/mW μ-Sensor (hohe Empfindlichkeit): 70 μV/mW |
Enthalpie-Genauigkeit |
<1% |
Gasatmosphären |
Inert/oxidierend |
Gasdurchfluss |
Statisch/dynamisch |
Gemessene Daten:
Anwendungsbereich:
Vereinheitlichte Normen:
ASTM E1461, DIN EN 821, DIN 30905 und ISO 22007-4:2008
Thermische Diffusivität / Leitfähigkeit – Technische Eckdaten:
Temperaturbereich |
Umgebungstemperatur bis 300°C |
Wärmedurchlässigkeitsbereich |
0,01 mm2/s bis 1.000 mm2/s |
Wärmeleitfähigkeit |
0,1 W/(m∙K) bis 2.000 W/(m∙K) |
Reproduzierbarkeit |
Temperaturleitfähigkeit: ±2% Spezifische Wärme: ±3% |
Genauigkeit |
Thermische Diffusivität: ±3% Spezifische Wärme: ±5% |
Probengröße |
Durchmesser: bis zu 25,4 mm oder Quadratisch: 6 mm / 8 mm / 10 mm / 12,7 mm Dicke: bis zu 3 mm |
Die elektrische Leitfähigkeit ist eine der wichtigsten Eigenschaften, die zur Charakterisierung von Materialien verwendet werden. Sie variiert in mehr als 25 Größenordnungen. Auch die Größe und Form der Proben variiert in einem weiten Bereich. Daher erfordert die Analyse anspruchsvoller Proben ein hohes Maß an Fachwissen. Das Fraunhofer IPA hat in den letzten Jahren im Rahmen mehrerer Projekte diese Expertise aufgebaut und kann Ihnen verschiedene Methoden zur Bewertung und Charakterisierung Ihrer Proben anbieten.
Eine der gebräuchlichsten Messmethoden ist die kollineare Vier-Punkt-Methode. Dabei werden vier gleichmäßig verteilte Sonden in Kontakt mit dem Prüfmaterial gebracht. Die beiden äußeren Sonden werden zur Stromaufnahme verwendet, die beiden inneren zur Messung des resultierenden Spannungsabfalls über der Oberfläche der Probe. Vor allem bei Niederohmmessungen wird häufig eine Vierpunktsonden-Technik eingesetzt. Wir bieten unseren Kunden auch die folgenden Messmethoden an, die im Folgenden aufgeführt sind.
Gemessene Daten:
Anwendungen:
Technische Eckdaten:
Max. Auflösung |
0,1 nV, 0,1 μΩ |
Empfindlichkeit |
100 pV, 100 nΩ |
Rauschverhalten |
1,3 nVrms; 8 nVpp |
Widerstandsmessbereich |
1 Ω bis 1 MΩ |
Spannungsmessbereich |
DC 1 mV bis 100 V |
Messungen |
Direkt SPRT, RTD, Thermistor und Thermoelement |
Technische Eckdaten:
Digit-Auflösung |
51/2 |
Spannungsmessbereich |
DC 200 mV bis 100 V |
Strommessbereich |
10 μA bis 3 A (im 1 kW-Pulsbetrieb: bis10 A) |
Widerstandsmessbereich |
0,2 Ω bis 20 MΩ |
Methode |
Konstantstromverfahren |
Widerstandsmessbereich |
0,01 Ω bis 10 MΩ |
Strommessbereich |
100 mA bis 0,1 μA |
Genauigkeit |
2,0% und 1,0% |
Einsatzgebiet:
Technische Eckdaten:
Prüfraumvolumen |
600 l |
- Leistung für Temperaturtests
Temperaturbereich |
-40°C bis +180°C |
Temperaturraten |
Kühlung: 5,5 K/min Heizen: 5,0 K/min |
- Leistung für Klimatests
Temperaturbereich |
+10°C bis +95°C |
Luftfeuchtigkeitsbereich |
10% RH bis 95% RH(mit 1 bis 3% RH-Abweichung mit der Zeit) |
Taupunktbereich |
+4°C bis +94°C |
Technische Eckdaten:
Prüfraumvolumen |
197 l |
- Leistung für Temperaturprüfung
Temperaturbereich |
-130°C bis +190°C |
Temperaturraten |
5 K/min |
Gemessene Daten:
Anwendungen und Merkmale:
Technische Eckdaten:
Optisches System |
Doppelstrahl |
Spektralbandbreite |
0,5 / 1 / 2 / 5 nm |
Wellenlängenbereich |
190 - 1.100 nm |
Wellenlängengenauigkeit |
± 0,3 nm |
Photometrischer Modus |
Durchlässigkeit Absorptionsvermögen Energiekonzentration |
Photometrischer Bereich |
-0,3 - 3,0 Abs |
Photometrische Genauigkeit |
± 0,002 Abs (0 ~ 0,5 A) ± 0,004 Abs (0,5 ~ 1 A) ± 0,3% T (0 ~ 100% T) |
Gemessene Daten:
Anwendungen und Merkmale:
Technische Eckdaten:
Mindestdrehmoment bei CS und CR |
0,01 μNm |
Min. Drehmomentschwingung in CS und CD |
0,003 μNm |
Max. Drehmoment |
200 mNm |
Auflösung des Drehmoments |
0,1 nNm |
Min. Drehzahl |
In CS: 10-7 U/min In CR: 10-8 U/min |
Max. Drehzahl |
1.500 (4.500) U/min |
Schrittgeschwindigkeit |
10 m/s |
Oszillationsfrequenzbereich |
10-6 Hz - 100Hz |
Normalkraftbereich |
0,01 N - 50 N |
Temperaturbereich |
-150°C - 600°C |
Messgeometrien |
Platte-Platte (20 mm und 35 mm) Platte-Kegel (35 mm) |
Umfang:
Die technische Simulation erleichtert die Analyse komplexer technischer Probleme wie Strukturmechanik, Strömungsmechanik, Elektromagnetik und thermische Prozesse. Die Abteilung für Funktionswerkstoffe nutzt CAE (computer aided engineering), um die Robustheit und Leistungsfähigkeit von Werkstoffen, Bauteilen und Baugruppen zu analysieren und zu optimieren, bevor sie in marktreife Anwendungen überführt werden. Dadurch wird der Test- und Charakterisierungsaufwand minimiert und die Kosten für Forschungs- und Entwicklungsprojekte können gesenkt werden.
Ressourcen:
Umfang:
Die Mehrskalensimulation dient der Lösung physikalischer Probleme, die wichtige Merkmale auf mehreren Skalen, insbesondere mehreren räumlichen und zeitlichen Skalen, aufweisen. Sie ermöglicht die Vorhersage von Materialeigenschaften oder des Systemverhaltens auf der Grundlage der Kenntnis der atomistischen Struktur des Materials oder des Verbundstoffs unter Einbeziehung der Eigenschaften von Elementarprozessen. Kleine (mikroskalige) Modelle berechnen Materialeigenschaften oder Beziehungen zwischen Eigenschaften und Parametern, z. B. Streckgrenze in Abhängigkeit von der Temperatur, die anschließend als Eingangsparameter in makroskalige Kontinuums-/FE-Modelle verwendet werden.
Moderne Materialsimulationswerkzeuge verfügen über Methoden zur Beschreibung der Mikrostruktur des Verbundwerkstoffs sowie der Materialeigenschaften seiner Bestandteile, um ein FE-Modell des repräsentativen Volumenelements (RVE) der Mikrostruktur des Nano-Verbundwerkstoffs zu erstellen. Das generierte Modell wird in eine CAE-Software übertragen, um das Berechnungsmodell für alle zu analysierenden Randbedingungen zu lösen. Die Variation von Prozessparametern, Substrattypen und Vorläufern kann leicht in den Simulationsprozess integriert werden, um optimierte Konfigurationen der Mikrostruktur in Bezug auf ihre relevanten Materialeigenschaften (Dämpfung, Wärmeleitfähigkeit, dynamische Steifigkeit, Elastizität usw.) zu finden.
Ressourcen:
Portfolio:
Umfang:
Ein wesentlicher Teil unserer Expertise am Fraunhofer IPA besteht in der Systemintegration. Für elektronische Komponenten werden hochspezialisierte Softwarewerkzeuge für den Entwurf elektronischer Systeme wie Leiterplatten und integrierte Schaltungen eingesetzt. Kundenspezifische Sonderbauformen werden mit einer Vielzahl von unterstützenden Werkzeugen und automatisierten Entwurfsmethoden entwickelt, optimiert und prototypisch umgesetzt. Durch den Einsatz dieser Werkzeuge sind wir in der Lage, schnell auf jede Änderung der Kundenanforderungen zu reagieren. Für die Integration und das Testen der endgültigen Anwendung arbeiten wir eng mit Unternehmen zusammen, die auf die schnelle Herstellung von Prototyp-PCBs spezialisiert sind.
Ressourcen:
Portfolio: